Ionischer Kontaminationstester CT100 NEO Das Testsystem wurde entwickelt, um elektronische Baugruppen auf Verunreinigungen zu überprüfen, welche unter anderem den MIL-, DEF-, IPC- und IEC-Normen unterliegen. Bei der Überprüfung befindet sich die Baugruppe in einer Testflüssigkeit, die kleinste ionische Verunreinigungen durch ein spezielles Messsystem erkennt. Es dient der Qualitätskontrolle und wird z. b. [...]

Testsystem Menisco ST 88 NEO Das Testsystem  wurde entwickelt für Benetzungstests an Komponenten, Leiterplatten und SMD-Bauteilen. Die Lötbarkeit wird durch eine präzise und objektive Messung mittels kapillarer Benetzungskräfte (mN) und dem Benetzungsmeniskuswinkel ermittelt und in quantitativen Einheiten beurteilt. Das Ergebnis entspricht direkt der Lotbenetzbarkeit des Prüflings, garantiert eine maßgebliche Aussage durch reproduzierbare [...]